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首页-产品展示-X-Ray检测设备--X-eye SF160RT Series赛可(SEC)X-RAY检测设备SF160RT Series

赛可(SEC)X-RAY检测设备SF160RT Series

更新时间:2024-05-23

产品型号:X-eye SF160RT Series

简要描述:赛可(SEC)X-RAY检测设备SF160RT Series:半导体,电子产品,封装等产品精密分析用非破坏性检测设备Detector X-tlt与Y-tilt Axis增加2.5D view的自由度。

  • 企业实力

    Enterprise Strength
  • 有效保修

    Valid Warranty
  • 质量保障

    Quality Assurance

详细介绍

赛可(SEC)X-RAY检测设备SF160RT Series简介:

半导体,电子产品,封装等产品精密分析用非破坏性检测设备

Detector X-tlt与Y-tilt Axis增加2.5D view的自由度

Multi-layer PCB佳的检测方案

●可安装Oblique/Cone-beam CT

赛可(SEC)X-RAY检测设备SF160RT Series选配AXI S/W功能可进行量产检测

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1.赛可(SEC)X-RAY检测设备SF160ER Series:

·精密分析及3D view佳的检测设备

·半导体,电子产品,封装等产品精密分析用非破坏性检测设备

·可搭载Option自动检测S/W,通过手动装料后的自动检测,可实现产品全检

·通过Dual CT (Oblique CT, Cone-beam CT)方式的3D检测,提供高分辨率

·高精度的分析检测环境

2. 赛可(SEC)X-RAY检测设备SF160F/N Series:

·精密分析及2.5D view佳检测设备Detector rotation,简便·快速获取2.5D viev最大可实现900 x 900mm的Table size, 可检测大型PCB和LED

·选配AXI S/W功能可进行量产检测

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