赛可（SEC）X-RAY检测设备SF160RT Series

更新时间：2025-06-09

产品型号：X-eye SF160RT Series

简要描述：赛可（SEC）X-RAY检测设备SF160RT Series：半导体，电子产品，封装等产品精密分析用非破坏性检测设备Detector X-tlt与Y-tilt Axis增加2.5D view的自由度。

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详细介绍

    赛可（SEC）X-RAY检测设备SF160RTSeries简介：

    1、半导体，电子产品，封装等产品精密分析用非破坏性检测设备

    2、DetectorX-tlt与Y-tiltAxis增加2.5Dview的自由度

    3、Multi-layerPCB佳的检测方案

    4、可安装Oblique/Cone-beamCT

    5、赛可（SEC）X-RAY检测设备SF160RTSeries选配AXIS/W功能可进行量产检测

    1.赛可（SEC）X-RAY检测设备SF160ERSeries：

    ·精密分析及3Dview佳的检测设备

    ·半导体，电子产品，封装等产品精密分析用非破坏性检测设备

    ·可搭载Option自动检测S/W，通过手动装料后的自动检测，可实现产品全检

    ·通过DualCT(ObliqueCT,Cone-beamCT)方式的3D检测，提供高分辨率

    ·高精度的分析检测环境

    2.赛可（SEC）X-RAY检测设备SF160F/NSeries：

    ·精密分析及2.5Dview佳检测设备Detectorrotation,简便·快速获取2.5Dviev最大可实现900x900mm的Tablesize,可检测大型PCB和LED

    ·选配AXIS/W功能可进行量产检测

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