产品展示NEWS CENTER

在发展中求生存,不断完善,以良好信誉和科学的管理促进企业迅速发展
产品展示

首页-产品展示--X-Ray检测设备-X-eye SF160F/N Series赛可(SEC)X-RAY检测设备SF160F/N Series

赛可(SEC)X-RAY检测设备SF160F/N Series

更新时间:2023-08-15

产品型号:X-eye SF160F/N Series

简要描述:赛可(SEC)X-RAY检测设备SF160F/N Series:用户可通过需求选择Dual CT功能(Oblique CT, Cone-beam CT)实现3次
元(3D)影像中进行正确的分析出不良的种类,位置及大小。

  • 企业实力

    Enterprise Strength
  • 有效保修

    Valid Warranty
  • 质量保障

    Quality Assurance

详细介绍

赛可(SEC)X-RAY检测设备SF160F/N Series简介:

1.X-RAY INSPECTION SYSTEM:

搭载高性能Micro-focus Open Tube (160kV)的高性能检测设备,实现高分辨率、高倍率下分析不良缺陷。此外,用户可通过需求选择Dual CT功能(Oblique CT, Cone-beam CT)实现3次元(3D)影像中进行正确的分析出不良的种类,位置及大小。


2.X-ray Simple & Easy 3D CT:

1).半导体,电子产品,封装等产品精密分析用非破坏性检测设备(大型PCB可进行非破坏性CT分析)
2).可搭载Option自动检测S/W,通过手动装料后的自动检测,可实现产品全检
3).最大可实现550 x 650mm尺寸的产品不良检测
4).通过Dual CT (Oblique CT, Cone-beam CT)方式的3D检测,提供高分辨率,高精度的分析检测环境
5).可搭载长寿命Filament,利于用户使用便利性(可适用于量产检测)


112.png

112.png

赛可(SEC)X-RAY检测设备SF160F/N Series等,欢迎咨询上海赛可,我们为您提供赛可(SEC)X-RAY检测设备 的参数、价格、型号、原理等信息,赛可(SEC)X-RAY检测设备 SF160F/N Series产地为韩国、品牌为赛可,欢迎大家咨询。

产品咨询

留言框

  • 产品:

  • 您的单位:

  • 您的姓名:

  • 联系电话:

  • 常用邮箱:

  • 省份:

  • 详细地址:

  • 补充说明:

  • 验证码:

    请输入计算结果(填写阿拉伯数字),如:三加四=7

相关产品

SCROLL

Copyright©2023 上海赛可检测设备有限公司版权所有 All Rights Reserved    备案号:沪ICP备2021013369号-2

技术支持:化工仪器网    管理登录    sitemap.xml