赛可（SEC）X-RAY检测设备SF160F/N Series

更新时间：2024-04-22

产品型号：X-eye SF160F/N Series

简要描述：赛可（SEC）X-RAY检测设备SF160F/N Series:用户可通过需求选择Dual CT功能(Oblique CT, Cone-beam CT)实现3次元（3D）影像中进行正确的分析出不良的种类，位置及大小。

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详细介绍

    赛可（SEC）X-RAY检测设备SF160F/NSeries简介：

    1.X-RAYINSPECTIONSYSTEM：

    搭载高性能Micro-focusOpenTube(160kV)的高性能检测设备，实现高分辨率、高倍率下分析不良缺陷。此外，用户可通过需求选择DualCT功能(ObliqueCT,Cone-beamCT)实现3次元（3D）影像中进行正确的分析出不良的种类，位置及大小。

    2.X-raySimple&Easy3DCT：

    1).半导体，电子产品，封装等产品精密分析用非破坏性检测设备（大型PCB可进行非破坏性CT分析）

    2).可搭载Option自动检测S/W，通过手动装料后的自动检测，可实现产品全检

    3).最大可实现550x650mm尺寸的产品不良检测

    4).通过DualCT(ObliqueCT,Cone-beamCT)方式的3D检测，提供高分辨率，高精度的分析检测环境

    5).可搭载长寿命Filament，利于用户使用便利性（可适用于量产检测）

赛可（SEC）X-RAY检测设备SF160F/NSeries等，欢迎咨询上海赛可，我们为您提供赛可（SEC）X-RAY检测设备的参数、价格、型号、原理等信息，赛可（SEC）X-RAY检测设备SF160F/NSeries产地为韩国、品牌为赛可，欢迎大家咨询。

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