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首页-产品展示--X-Ray检测设备-X-eye SF160F/N Series赛可(SEC)X-RAY检测设备SF160F/N Series

赛可(SEC)X-RAY检测设备SF160F/N Series

更新时间:2024-04-08

产品型号:X-eye SF160F/N Series

简要描述:赛可(SEC)X-RAY检测设备SF160F/N Series:用户可通过需求选择Dual CT功能(Oblique CT, Cone-beam CT)实现3次元(3D)影像中进行正确的分析出不良的种类,位置及大小。

  • 企业实力

    Enterprise Strength
  • 有效保修

    Valid Warranty
  • 质量保障

    Quality Assurance

详细介绍

    赛可(SEC)X-RAY检测设备SF160F/NSeries简介:

    1.X-RAYINSPECTIONSYSTEM:

    搭载高性能Micro-focusOpenTube(160kV)的高性能检测设备,实现高分辨率、高倍率下分析不良缺陷。此外,用户可通过需求选择DualCT功能(ObliqueCT,Cone-beamCT)实现3次元(3D)影像中进行正确的分析出不良的种类,位置及大小。

    2.X-raySimple&Easy3DCT:

    1).半导体,电子产品,封装等产品精密分析用非破坏性检测设备(大型PCB可进行非破坏性CT分析)

    2).可搭载Option自动检测S/W,通过手动装料后的自动检测,可实现产品全检

    3).最大可实现550x650mm尺寸的产品不良检测

    4).通过DualCT(ObliqueCT,Cone-beamCT)方式的3D检测,提供高分辨率,高精度的分析检测环境

    5).可搭载长寿命Filament,利于用户使用便利性(可适用于量产检测)

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    赛可(SEC)X-RAY检测设备SF160F/NSeries等,欢迎咨询上海赛可,我们为您提供赛可(SEC)X-RAY检测设备的参数、价格、型号、原理等信息,赛可(SEC)X-RAY检测设备SF160F/NSeries产地为韩国、品牌为赛可,欢迎大家咨询。


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