赛可（SEC）X-RAY检测设备SF160F/N Series

更新时间：2023-08-15

产品型号：X-eye SF160F/N Series

简要描述：赛可（SEC）X-RAY检测设备SF160F/N Series:用户可通过需求选择Dual CT功能(Oblique CT, Cone-beam CT)实现3次
元（3D）影像中进行正确的分析出不良的种类，位置及大小。

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赛可（SEC）X-RAY检测设备SF160F/N Series简介：

1.X-RAY INSPECTION SYSTEM：

搭载高性能Micro-focus Open Tube (160kV)的高性能检测设备，实现高分辨率、高倍率下分析不良缺陷。此外，用户可通过需求选择Dual CT功能(Oblique CT, Cone-beam CT)实现3次元（3D）影像中进行正确的分析出不良的种类，位置及大小。

2.X-ray Simple & Easy 3D CT：

1).半导体，电子产品，封装等产品精密分析用非破坏性检测设备（大型PCB可进行非破坏性CT分析）

2).可搭载Option自动检测S/W，通过手动装料后的自动检测，可实现产品全检

3).最大可实现550 x 650mm尺寸的产品不良检测

4).通过Dual CT (Oblique CT, Cone-beam CT)方式的3D检测，提供高分辨率，高精度的分析检测环境

5).可搭载长寿命Filament，利于用户使用便利性（可适用于量产检测）

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