赛可（SEC）X-RAY检测X-eye5000N Series

更新时间：2025-03-17

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简要描述：赛可（SEC）X-RAY检测X-eye5000N Series:通过采用双臂支撑的Z轴结构方式，可快速地获取清晰图像。

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赛可（SEC）X-RAY检测X-eye5000N Series简介：

搭载Micro-focus Closed Tube (100kV~130kV)和高分辨率的Flat Panel Detector，可获取高画质的图像。通过机械结构的改善，量产检测时可迅速获取精密的图像。此外，为了更加便于用户使用设备，提供丰富的软件及硬件上的Option，用户根据使用需求进行选购。

赛可（SEC）X-RAY检测X-eye5000N Series特点：

1.适用于半导体，SMT，电子产品等多种产品的非破坏性检测设备

2.通过采用双臂支撑的Z轴结构方式，可快速地获取清晰图像

3.最大可实现650 x 550mm尺寸的产品不良检测

4.可选配自动检测软件，通过Teaching功能可对应多种类型的产品进行自动检测分析

*根据不同技术要求，参数会有所差异

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