详细介绍
赛可(SEC)X-RAY检测设备X-eye NF120 Series简介:
该检测设备搭载200纳米的Nano-focus Tube,广泛应用于要求检测Sub-micron单位不良的半导体封装及Waffer level packaging(WLP)领域里。通过大理石平台和各个高精度驱动轴,可以更加精准的找到不良部位并且正确的分析不良问题。添加3D CT模块可进行断层分析,通过搭载Waffer handle(EFEM)装置可自动装卸Waffer,自动检测,实现Full Auto全自动检测的设备。
赛可(SEC)X-RAY检测设备X-eye NF120 Series特点:
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