赛可(SEC)X-RAY检测设备X-eye NF120 Series

更新时间：2024-04-22

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简要描述：赛可（SEC）X-RAY检测设备X-eye NF120 Series广泛应用于要求检测Sub-micron单位不良的半导体封装及Waffer level packaging（WLP)领域里。

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赛可（SEC）X-RAY检测设备X-eye NF120 Series简介：

该检测设备搭载200纳米的Nano-focus Tube，广泛应用于要求检测Sub-micron单位不良的半导体封装及Waffer level packaging（WLP)领域里。通过大理石平台和各个高精度驱动轴，可以更加精准的找到不良部位并且正确的分析不良问题。添加3D CT模块可进行断层分析，通过搭载Waffer handle(EFEM)装置可自动装卸Waffer，自动检测，实现Full Auto全自动检测的设备。

赛可（SEC）X-RAY检测设备X-eye NF120 Series特点：

1.搭载自主研发生产的200nm级别开管式光管（Focal spot size Nano-focus open tube）

2.Wafer level工艺中，对TSV，Micro-bump，Cu pilar等产生的超细微不良进行自动检测的优秀选择

3.SEC*的3D CT用Auto Collimation 及 Filtering技术实现X-ray damage free（无损检测）

4.安全检测存储半导体芯片

5.可同时兼容2D,3D自动检测