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赛可(SEC)X-RAY检测设备X-eye NF120 Series

更新时间:2024-05-08

产品型号:

简要描述:赛可(SEC)X-RAY检测设备X-eye NF120 Series广泛应用于要求检测Sub-micron单位不良的半导体封装及Waffer level packaging(WLP)领域里。

  • 企业实力

    Enterprise Strength
  • 有效保修

    Valid Warranty
  • 质量保障

    Quality Assurance

详细介绍

赛可(SEC)X-RAY检测设备X-eye NF120 Series简介:

该检测设备搭载200纳米的Nano-focus Tube,广泛应用于要求检测Sub-micron单位不良的半导体封装及Waffer level packaging(WLP)领域里。通过大理石平台和各个高精度驱动轴,可以更加精准的找到不良部位并且正确的分析不良问题。添加3D CT模块可进行断层分析,通过搭载Waffer handle(EFEM)装置可自动装卸Waffer,自动检测,实现Full Auto全自动检测的设备。


赛可(SEC)X-RAY检测设备X-eye NF120 Series特点:

1.搭载自主研发生产的200nm级别开管式光管(Focal spot size Nano-focus open tube)
2.Wafer level工艺中,对TSV,Micro-bump,Cu pilar等产生的超细微不良进行自动检测的优秀选择
3.SEC*的3D CT用Auto Collimation 及 Filtering技术实现X-ray damage free(无损检测)
4.安全检测存储半导体芯片
5.可同时兼容2D,3D自动检测

   

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