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赛可（SEC）X-RAY设备X-eye 6200 Series：搭载自主研发·生产的0.8微米focal spot tube和大面积Detector，确保高(High)分辨率图像，最小也可以检测出20微米的细微缺陷的设备。
更新日期：2025-06-09
型号：X-eye 6200AXI Series
厂商性质：代理商
赛可（SEC）X-RAY设备X-eye 6100 Series：为了用户的便利性定期更新各种Easy-to-use功能。
更新日期：2025-06-09
型号：X-eye 6100AXI Series
厂商性质：代理商
赛可（SEC）X-RAY检测设备SF160RT Series：半导体，电子产品，封装等产品精密分析用非破坏性检测设备Detector X-tlt与Y-tilt Axis增加2.5D view的自由度。
更新日期：2025-06-09
型号：X-eye SF160RT Series
厂商性质：代理商
赛可（SEC）X-RAY检测X-eye5000N Series:通过采用双臂支撑的Z轴结构方式，可快速地获取清晰图像。
更新日期：2025-06-09
型号：
厂商性质：代理商
赛可（SEC）X-RAY检测设备X-eye NF120 Series广泛应用于要求检测Sub-micron单位不良的半导体封装及Waffer level packaging（WLP)领域里。
更新日期：2025-06-09
型号：
厂商性质：代理商
赛可（SEC）X-RAY检测设备SF160F/N Series:用户可通过需求选择Dual CT功能(Oblique CT, Cone-beam CT)实现3次元（3D）影像中进行正确的分析出不良的种类，位置及大小。
更新日期：2025-06-09
型号：X-eye SF160F/N Series
厂商性质：代理商
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